Китов Б.И. Диаграмма излучения рентгеновской трубки с кольцевым анодом [Электронный ресурс] / Б.И. Китов, Ф.Р. Сармиева // Молодая наука Сибири: электрон. науч. журн. – 2020. – №2(8). – Режим доступа: http://mnv.irgups.ru/diagramma-izlucheniya-rentgenovskoy-trubki-s-kolcevym-anodom, свободный. – Загл. с экрана. – Яз. рус., англ. (дата обращения: 01.07.2020)
В транспортное уравнение для флуоресценции определяемого элемента, внесено изменение, учитывающее пространственную расходимость излучения рентгеновской трубки. Изменение заключается во введении интегрирования по поверхности анода трубки и поверхности облучаемого образца. Для рентгеновской трубки с коническим анодом вычислено распределение плотности потока вторичного излучения цинка в стали марки 45 по поверхности образца при облучении его излучением рентгеновской трубки БХВ-9. Показано, что распределение плотности потока трубки излучения зависит не только от угла испускания, но и от расстояния от анода до образца. Так для излучения конического анода двухлистное распределение на малых расстояниях переходит в однолистное при больших расстояниях. Это дает основание считать, что при удалении образца от анода на расстояние вдвое большее диаметра анода приводит к равномерному облучению образца.
- Criss J.W., Birks L.S. Calculation methods for fluorescent X-Ray spectrometry. Empirical coefficients v.s. fundamental Parameters // Analytical Chemistry. -1968.-V.40, №7. -P.1080-1086.
- V.P. Afonin, A.L.Finkelshtein, V.J. Borkhodoev and T.N.Gunicheva X-Ray Fluorescence Analusis of Rocks by the Fundamental Parameter Method// X-Ray Spectrometry. -1992. -V.-21. -P.69-75
- B.I.Kitov Calculation Features of the Fundamental Parameter Method in XRF// X-Ray Spectrometry. -2000.-V.29. - P.285-290.
- Sherman J. The theoretical derivation X-ray intensities from mixtures // Spectrochimica Acta. -1955.-V.7. -P.283-306.
- Afanasiev, I.B. Usage of fundamental parameters method for quantitative analusis of spectra acquired on spectrometer with Kumakhov lens / I.B. Afanasiev, V.V. Danichev, V.F.Ivanov, R.I.Kondratenko, V.A. Mikhin // Proceedings of SPIE. X-Ray and apilary Optics II/ 2000. V. 4144. P.174
- Pavlinsky G.V., Kitov B.I. Influence of divergence of the Primary radiation beam on the line intensity of the X-Ray fluorescence spectrum // X-Ray Spectrometry. -1979. -V.8, №3. -P.96-101.
- Losev N.F. Quantitative X-ray fluorescence analusis. Nauka, Moscow, 1969, p. 336.
- Kramers Н. А. On the theory of X-ray absorbtion and of the continues X-ray spectrum // Рhyl. Маg. -1923. -V. 46, № 275. Р. 836—871.
- S.J.B. Reed Electron Microprobe Analysis //Cambridge University Press, Cambridge London, 1975, -424 p.
- V.P. Afonin X-ray fluorescence analysis of rocks// Z. Ana. Chemistry, 1989.- 335. –P.55-57.
- Philibert J. A method for calculating the absorption correctioin functions for electron probe microanalysis // Х-Rау Oрtic аnd X-Ray Microanalysis. N.Y. -1963. Р.379—392.